Treffen Sie uns in Berlin und hören Sie den Vortrag unseres Fischer-Experten zum Thema „Schichtdickenmessung dünnster Schichten mittels Röntgenfluoreszenzanalyse“.
Die Messung der Schichtdicke mit Röntgenfluoreszenzanalyse bis hinunter zum einstelligen Nanometerbereich ist heute Stand der Technik. Allerdings ist die Umsetzung im Einzelnen aufgrund zahlreicher Einflussfaktoren herausfordernd. Wie eine Messmittelfähigkeit trotzdem erreicht werden kann, wird hier präsentiert und anhand von Beispielen vertieft.
Eventdatum: Mittwoch, 20. März 2024 09:00 – 16:00
Eventort: Berlin
Firmenkontakt und Herausgeber der Eventbeschreibung:
HELMUT FISCHER GMBH INSTITUT FÜR ELEKTRONIK UND MESSTECHNIK
Industriestraße 21
71069 Sindelfingen
Telefon: +49 (0) 7031 / 303-0
Telefax: +49 (0) 7031 / 303-710
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